根据 9 月 5 日在线发表在《放射学》杂志上的一项研究，对于接受左心耳封堵 (LAAO) 的心房颤动患者，随访计算机断层扫描 (CT) 中的高级别低衰减增厚 (HAT) 与较高的中风风险相关。

法国波尔多大学基金会的 Xavier Iriart 医学博士及其同事进行了一项前瞻性研究，旨在检查 LAAO 后随访 CT 中的 HAT 等级与临床特征和结果之间的关系。研究纳入了2012年1月至2020年11月期间在法国两个医疗中心接受LAAO治疗的中风高风险心房颤动患者。总体而言，对 LAAO 后平均 4.2 ± 1.7 个月接受 CT 随访的 412 名患者进行了分析。

研究人员发现，低级和高级 HAT 分别占 23.8% 和 5.1% 的参与者。随访期间抗血栓药物停用的几率较高与高级别 HAT 相关(比值比为 9.5)，而低级别 HAT 与左心耳持续通畅的几率降低相关(比值比为 0.46)。在中位随访 17 个月期间，5.8% 的参与者发生中风;高级别 HAT 与中风相关(风险比为 4.6)，但低级别 HAT 没有关联。

作者写道：“这些发现支持引入明确的标准化 CT 标准进行 HAT 分级，对植入后治疗方案的优化具有重要意义。”