显微镜技术的突破有望为敏感材料提供更好的成像

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由都柏林圣三一学院领导的国际科学家团队利用最先进的显微镜发明了一种创新的成像方法,大大减少了所需的时间和辐射。他们的工作代表了一项重大突破,将使从材料科学到医学的多个学科受益,因为该方法有望为敏感材料(例如特别容易受到损伤的生物组织)提供更好的成像。

目前,扫描透射电子显微镜 (STEM) 引导高度聚焦的电子束穿过样本,逐点构建图像。传统上,电子束在每个点处都会停留一段固定的、预先定义的时间,暂停以积累信号。

有点像使用胶卷的相机,无论图像区域的特征如何,它都能产生具有恒定曝光时间的图像。电子不断落在样品上,直到每个像素的所谓“停留时间”过去。传统方法实施起来很简单,但存在使用过度破坏性辐射的风险,这可能会导致样品变形或损坏。

然而,新方法通过重新考虑成像的基本逻辑,彻底改变了底层方法。该团队不是在固定时间内进行观察并测量检测到的“事件”数量(因为电子从样本的不同部分散射以构建图像),而是开发了一种基于事件的检测系统,他们测量检测一定数量的这些事件所需的不同时间。

这两种方法都可以提供相同的“检测率”图像对比度,但至关重要的是,它们方法背后的新数学理论表明,在每个探测位置检测到的第一个电子在构建图像时提供了大量信息,但随后电子击中同一点所提供的信息回报迅速减少。而且样本上的每个电子都带来相同的损坏风险。

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